JLgsm 2008-5-28 09:38
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内容:
【资料成文时间】： 2004
【语言】：中文
【页数】： 24
【何人（公司）所著】： 中华人民共和国信息产业部
【文件格式】： PDF
【文件原名】： 有线调制解调器技术条件
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JLgsm 2008-5-28 09:41
序号 标准编号 标准名称
1、 SJ 1.1-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 电子工业标准年度计划编制工作的主要程序和要求
2、 SJ 1.2-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 调整标准编制计划的原则和程序
3、 SJ 1.3-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 编制电子工业技术标准主办单位责任制
4、 SJ 1.4-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 电子工业技术标准编制计划实施阶段划分及要求
5、 SJ 1.5-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 标准草案（送审稿）函审程序
6、 SJ 1.6-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 电子工业技术标准报批程序和规定
7、 SJ 1.7-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 标准草案（报批稿）报批时资料齐套性要求
8、 SJ 1.8-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 标准草案编写时应遵循的要求
9、 SJ 1.9-87 电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 标准草案（报批稿）报批审查时退稿的原则和程序
10、 SJ 1.10-87电子工业技术标准制修订工作有关规范和要求 标准草案（送审稿）审定会会议纪要（或审定结论）的主要内容
11、 SJ 1.11-87电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 标准草案（报批稿）报批报告的内容
12、 SJ 1.12-87电子工业技术标准制修订工作有关规定和要求 对专业标准化技术委员会审查标准草案（报批稿）的要求
13、 SJ 26-79 小功率电子管寿命试验方法
14、 SJ 30-84 半导体管调幅广播收音机分类与基本参数
15、 SJ/T 37-96电子工业专用设备型号编制及命名方法
16、 SJ/Z 44-64电镀和化学涂覆典型工艺过程
17、 SJ 42-77 金属镀层和化学处理层的分类、特性、应用范围和标记
18、 SJ/Z 44-64(附件) 电镀溶液分析方法
19、 SJ 46-65 φ２００ｍｍ电磁式扬声器技术条件
20、 SJ 91-86 ＤＨ型信号灯盒
21、 SJ 92-86 ＢＨ型熔断器盒
22、 SJ 94-78 ＣＡ型矩形插头座
23、 SJ 96-65 ＣＢ２型矩形插头座
24、 SJ 97-65 变压器和阻流圈用小型铁芯片
25、 SJ 99-87 变压器和扼流圈用铁心片及铁心叠厚系列
26、 SJ 119-86 中心安装的ＫＸ０１型旋转片式开关（低电负荷） 最多１２位、最大直径５５毫米
27、 SJ 738-86 中心安装的ＫＸ０３型旋转片式开关（低电负荷） 最多12位、最大直径４０毫米
28、 SJ 739-86 中心安装的ＫＸ０４形旋转片式开关（低电负荷） 最多１２位、最大直径３０毫米
29、 SJ 740-86 中心安装的ＫＸ０５型旋转片式开关（低电负荷） 最多１２位、最大直径２５毫米
30、 SJ 2687-86 中心安装的ＫＸ０６型旋转片式开关（低电负荷） 最多１２位、最大直径１６毫米
31、 SJ 2688-86 中心安装的ＫＸ０７型１０位通转片式开关（低电负荷） 最大直径２５毫米
32、 SJ 2689-86 中心安装的ＫＸ１０型旋转片式开关（低电负荷） 最多１２位、最大直径５５毫米
33、 SJ 2690-86 中心安装的ＫＸ１１型旋转片式开关（低电负荷） 最多１２位、最大直径５５毫米
34、 SJ 2691-86 中心安装、双孔定位的ＫＸ１３型旋转片式开关（低电负荷） 最多１２位、最大直径４２毫米
35、 SJ 2692-86 中心安装的ＫＸ１４型旋转片式开关（低电负荷） 最多１２位、最大直径３０毫米
36、 SJ 2693-86 中心安装的ＫＸ１５型旋转片式开关（低电负荷） 最多１２位、最大直径２５毫米
37、 SJ 2694-86 中心安装的ＫＸ１７型旋转片式开关（低电负荷） 最多１２位、最大直径３０毫米
38、 SJ/T 142-96 电子工业专用设备通用规范
39、 SJ/T 143-96 被银陶瓷零件
40、 SJ 151A-84 电子设备用继电器规格号标志方法
41、 SJ 152-75 电子计算机型号命名方法
42、 SJ 1230-77 锗检波二极管高频整流电流的测试方法
43、 SJ 198-80 计数管总技术条件
44、 SJ 202-81 印制板通用技术要求和试验方法
45、 SJ/T 211.3-96 电子工业专用设备设计文件 第３部分：设计文件的格式
46、 SJ/T 211.4-96 电子工业专用设备设计文件 第４部分：设计文件的编制
47、 SJ/T 207.1-1999 设计文件的管理制度 第一部分 设计文件的分类和组成
48、 SJ/T 207.2-1999 设计文件的管理制度 第二部分 设计文件的格式
49、 SJ/T 207.3-1999 设计文件的管理制度 第三部分 文字内容和表格形式设计文件的编制方法
50、 SJ/T 211.1-96 电子工业专用设备设计文件 第１部分：设计文件的完整性
51、 SJ/T 211.2-96 电子工业专用设备设计文件 第２部分：图样的标题栏、附加栏和明细栏
52、 SJ/T 211.6-1999 电子工业专用设备设计文件 第６部分：设计文件的更改
53、 SJ 280-80 电子设备车辆通用技术条件
54、 SJ 261-66 双极型插头和插座
55、 SJ 295-72 手摇发电机型号命名方法
56、 SJ 298-72 ＣＤ１型矩形插头座
57、 SJ 324-72 钼片
58、 SJ/Z 330-72 镀镍铁带镍层厚度的金相测定法
59、 SJ 332-73 高可靠姆指式（超小型）收讯放大管总技术条件
60、 SJ 338-73 高压整流管总技术条件
61、 SJ 343-73 微波气体放电管总技术条件
62、 SJ 344-73 低噪声行波管总技术条件
63、 SJ 345-73 功率行波管总技术条件
64、 SJ 346-73 “Ｏ”型返波管总技术条件
65、 SJ 347-73 反射速调管总技术条件
66、 SJ 362-73 反射速调管测试条件
67、 SJ 363-73 反射速调管反射极总电流、反射极离子流、反射极漏电流的测试方法
68、 SJ 364-73 反射速调管阴极电流的测试方法
69、 SJ 365-73 反射速调管灯丝电压改变时阴极电流变化率的测试方法
70、 SJ 366-73 反射速调管各极间漏电流的测试方法
71、 SJ 367-73 反射速调管输出功率的测试方法
72、 SJ 368-73 反射速调管功率波动比的测试方法
73、 SJ 369-73 反射速调管振荡频率的测试方法
74、 SJ 370-73 反射速调管电子调谐范围的测试方法
75、 SJ 371-73 反射速调管抗负载变化特性的测试方法
76、 SJ 372-73 反射速调管电子调谐斜率的测试方法
77、 SJ 373-73 反射速调管频率牵引的测试方法
78、 SJ 374-73 反射速调管负载特性的测试方法
79、 SJ 375-73 反射速调管脉冲调制特性的测试方法
80、 SJ 376-73 反射速调管电子滞后的测试方法
81、 SJ 377-73 反射速调管频率漂移系数的测试方法
82、 SJ 378-73 反射速调管稳定频率建立时间的测试方法
83、 SJ 379-73 反射速调管频率漂移的测试方法
84、 SJ 380-73 反射速调管频率稳定特性的测试方法
85、 SJ 381-73 反射速调管频率温度系数的测试方法
86、 SJ 382-73 反射速调管频率的可重调性的测试方法
87、 SJ 419-73 低噪声行波管测试条件
88、 SJ 420-73 低噪声行波管各极电压和电流的测试方法
89、 SJ 421-73 低噪声行波管末阳极与各极间的漏电电流的测试方法
90、 SJ 422-73 低噪声行波管阴极预热时间的测试方法
91、 SJ 423-73 低噪声行波管匹配特性的测试方法
92、 SJ 424-73 低噪声行波管冷衰减量的测试方法
93、 SJ 425-73 低噪声行波管功率增益的测试方法
94、 SJ 426-73 低噪声行波管噪声系数的测试方法
95、 SJ 427-73 低噪声行波管动态范围的测试方法
96、 SJ 428-73 低噪声行波管带宽的测试方法
97、 SJ 429-73 低噪声行波管工作频率范围的测试方法
98、 SJ 430-73 “Ｏ”型返波管测试条件
99、 SJ 431-73 “Ｏ”型返波管各极电压和电流的测试方法
100、 SJ 432-73 “Ｏ”型返波管阴极预热时间的测试方法
101、 SJ 433-73 “Ｏ”型返波管匹配特性的测试方法
102、 SJ 434-73 “Ｏ”型返波管功率－电压特性的测试方法
103、 SJ 435-73 “Ｏ”型返波管频率－电压特性的测试方法
104、 SJ 436-73 “Ｏ”型返波管频率推移系数的测试方法
105、 SJ 437-73 “Ｏ”型返波管频率牵引的测试方法
106、 SJ 438-73 “Ｏ”型返波管寄生振荡信噪比的测试方法
107、 SJ 439-73 “Ｏ”型返波管最大起振电流的测试方法
108、 SJ 440-73 “Ｏ”型返波管截止栅压的测试方法
109、 SJ 441-73 “Ｏ”型返波管工作频率范围的测试方法
110、 SJ 442-73 高压整流管测试方法
111、 SJ 443-73 高压整流管阴极加热时间的测试方法
112、 SJ 444-73 高压整流管阳极电流与欠热时阳极电流的测试方法
113、 SJ 445-73 高压整流管阴极脉冲放射电流和欠热阴极脉冲放射电流的测试方法
114、 SJ 446-73 高压整流管管压降与欠热管压降的测试方法
115、 SJ 447-73 高压整流管脉冲管压降与欠热脉冲管压降的测试方法
116、 SJ 448-73 高压整流管静态特性曲线的测试方法
117、 SJ 449-73 高压整流管耐压试验的测试方法
118、 SJ 450-73 高压整流管阳极耗散功率的测试方法
119、 SJ 451-73 高压整流管整流强度的测试方法
120、 SJ 452-73 高压整流管反向电流的测试方法
121、 SJ 453-73 高压整流管整流电流脉动峰值的测试方法
122、 SJ 454-73 高压整流管峰值管压降、反向峰值管压降和整流电流的测试方法
123、 SJ 455-73 高压整流管静态极间电容的测试方法
124、 SJ 650-80 ＣＣＷ３型圆片形微调瓷介电容器
125、 SJ 659-81 ＣＨ８１型高压密封复合介质电容器
126、 SJ 660-73 ＣＨ８２型高压密封复合介质电容器
127、 SJ/Z 730-73 电子束管系列型谱
128、 SJ/Z 731-73 光电倍增管系列型谱
129、 SJ/Z 732-73 充气管系列型谱
130、 SJ/Z 733-73 Ｘ射线管系列型谱
131、 SJ/Z 734-73 收讯放大管系列型谱
132、 SJ/Z 736-73 静电控制发射管系列型谱
133、 SJ 737-83 旋转片式开关（低电负荷）总技术条件
134、 SJ 747-73 弹性钢丝挡圈
135、 SJ 748-73 定位挡圈
136、 SJ 752-73 定位销
137、 SJ 755-73 碱性铁镍单体蓄电池
138、 SJ 756-73 ２ＴＮ１０碱性蓄电池组
139、 SJ 765-74 ３ＤＤ５０型和３ＤＤ５１型ＮＰＮ硅外延平面低频大功率三极管
140、 SJ 766-74 ３ＤＤ５２型ＮＰＮ硅合金扩散低频大功率三极管
141、 SJ 767-74 ３ＤＤ５３型和３ＤＤ５４型ＮＰＮ型硅外延平面低频大功率三极管
142、 SJ 768-74 ３ＤＤ５５型ＮＰＮ硅合金扩散低频大功率三极管
143、 SJ 769-74 ３ＤＤ５６型和３ＤＤ５７型ＮＰＮ硅外延平面低频大功率三极管
144、 SJ 770-74 ３ＤＤ５８型ＮＰＮ硅合金扩散低频大功率三极管
145、 SJ 771-74 ３ＤＤ５９型和３ＤＤ６０型ＮＰＮ硅外延平面低频大功率三极管
146、 SJ 772-74 ３ＤＤ６１型ＮＰＮ硅合金扩散低频大功率三极管
147、 SJ 773-74 ３ＤＤ６２型和３ＤＤ６３型ＮＰＮ硅外延平面低频大功率三极管
148、 SJ 774-74 ３ＤＤ６４型ＮＰＮ硅合金扩散低频大功率三极管
149、 SJ 775-74 ３ＤＤ６５型和３ＤＤ６６型ＮＰＮ硅外延平面低频大功率三极管
150、 SJ 776-74 ３ＤＤ６７型ＮＰＮ硅合金扩散低频大功率三极管
151、 SJ 777-74 ３ＤＤ６８型和３ＤＤ６９型ＮＰＮ硅外延平面低频大功率三极管
152、 SJ 778-74 ３ＤＤ７０型ＮＰＮ硅合金扩散低频大功率三极管
153、 SJ 779-74 ３ＤＤ７１型ＮＰＮ硅外延平面低频大功率三极管
154、 SJ 780-74 ３ＤＤ７２型ＮＰＮ硅合金扩散低频大功率三极管
155、 SJ 781-74 ３ＤＤ７３型ＮＰＮ硅外延平面低频大功率三极管
156、 SJ 782-74 ３ＤＧ１００型ＮＰＮ硅平面高频小功率三极管
157、 SJ 783-74 ３ＤＧ１０１型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率三极管
158、 SJ 784-74 ３ＤＧ１０２型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率三极管
159、 SJ 785-74 ３ＤＧ１０３型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率三极管
160、 SJ 786-74 ３ＤＧ１１０型ＮＰＮ硅平面高频小功率三极管
161、 SJ 787-74 ３ＤＧ１１１型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率三极管
162、 SJ 788-74 ３ＤＧ１１２型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率三极管
163、 SJ 789-74 ３ＤＧ１２０型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率三极管
164、 SJ 790-74 ３ＤＧ１２１型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率三极管
165、 SJ 791-74 ３ＤＧ１２２型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率三极管
166、 SJ 794-74 ３ＤＧ１４１型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率低噪声三极管
167、 SJ 795-74 ３ＤＧ１４２型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率低噪声三极管
168、 SJ 796-74 ３ＤＧ１６０型ＮＰＮ硅平面高频小功率高反压三极管
169、 SJ 797-74 ３ＤＧ１６１型ＮＰＮ硅平面高频小功率高反压三极管
170、 SJ 799-74 ３ＤＧ１７０型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率高反压三极管
171、 SJ 800-74 ３ＤＧ１８０型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率高反压三极管
172、 SJ 801-74 ３ＤＧ１８１型ＮＰＮ硅外延平面高频小功率高反压三极管
173、 SJ 811-74 辉光放电计数管起辉电压的测试方法
174、 SJ 812-74 辉光放电计数管暗室起辉电压的测试方法
175、 SJ 813-74 辉光放电计数管管压降的测试方法
176、 SJ 814-74 辉光放电计数管正弦工作状态的测试方法
177、 SJ 815-74 辉光放电计数管脉冲工作状态的测试方法
178、 SJ 816-74 辉光放电计数管复位性能的测试方法
179、 SJ 861-74 真空电阻炉基本参数系列
180、 SJ 862-74 氢气电阻炉基本参数系列
181、 SJ/Z 863-80 振动、碰撞、冲击、恒加速度试验设备系列型谱
182、 SJ 864-74 ＦＵ－５（Ｍ）型发射管
183、 SJ 871-74 ＷＹ－２Ｐ型辉光放电稳压管
184、 SJ 872-74 ＷＹ－３Ｐ型辉光放电稳压管
185、 SJ 873-74 ＷＹ－４Ｐ型辉光放电稳压管
186、 SJ 907-74 ＬＧ１和ＬＧ２型固定电感器
187、 SJ 909-74 ２ＣＷ５０～１４９型硅半导体稳压二极管
188、 SJ 910-74 ３ＤＷ５０～２０２型硅半导体稳压二极管
189、 SJ 911-74 ２ＤＷ２３０～２３６型硅平面温度补偿稳压二极管
190、 SJ 933-75 半导体调幅广播收音机用输出输入变压器
191、 SJ 934-75 ３ＤＤ１００型硅ＮＰＮ低频高反压大功率三极管
192、 SJ 935-75 3DD101、3DD102型硅NPN低频高反压大功率三极管
193、 SJ 936-75 3DD103、3DD104型硅NPN低频高反压大功率三极管
194、 SJ 946-83 电子测量仪器电气、机械结构基本要求
195、 SJ 948-84 黑白电视广播接收机分类与基本参数
196、 SJ 966-75 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
197、 SJ 973-85 Ｌ２７型射频连接器
198、 SJ 979-75 ６Ｐ１３Ｐ型（Ｍ）电子管
199、 SJ 980-75 ＲＸ－２１型微波气体放电管
200、 SJ 984-75 １３ＳＪ３８型示波管
201、 SJ 986-75 １５ＸＹＧ４５碱性蓄电池组
202、 SJ 987-75 双动冲床引伸模 落料引伸模
203、 SJ 988-75 双动冲床引伸模 首次引伸模
204、 SJ 989-75 双动冲床引伸模 以后各次引伸模
205、 SJ 990-75 双动冲床引伸模 上托
206、 SJ 991-75 双动冲床引伸模 底座
207、 SJ 992-75 双动冲床引伸模 垫板
208、 SJ 993-75 双动冲床引伸模 固定板定位板
209、 SJ 994-75 双动冲床引伸模 卸料板
210、 SJ 995-75 双动冲床引伸模 落料凹模 引伸凹模
211、 SJ 996-75 双动冲床引伸模 螺纹冲头把
212、 SJ 997-75 双动冲床引伸模 冲头把
213、 SJ 998-75 双动冲床引伸模 冲头把
214、 SJ 999-75 双动冲床引伸模 落料凸模
215、 SJ 1000-75 双动冲床引伸模 引伸凸模
216、 SJ 1001-75 双动冲床引伸模 首次引伸压边圈
217、 SJ 1002-75 双动冲床引伸模 以后各次引伸压边圈
218、 SJ 1003-75 双动冲床引伸模 通用模架
219、 SJ 1004-75 双动冲床引伸模 上托
220、 SJ 1005-75 双动冲床引伸模 底座
221、 SJ 1006-75 双动冲床引伸模 下压板
222、 SJ 1007-75 双动冲床引伸模 上压板
223、 SJ 1008-75 双动冲床引伸模 螺钉
224、 SJ 1009-75 手柄翻开式钻模 模架
225、 SJ 1010-75 手柄翻开式钻模 钻模板
226、 SJ 1011-75 手柄翻开式钻模 压板
227、 SJ 1012-75 手柄翻开式钻模 搭扣
228、 SJ 1013-75 手柄翻开式钻模 导柱
229、 SJ 1014-75 手柄翻开式钻模 钻脚
230、 SJ 1015-75 手柄翻开式钻模 支柱
231、 SJ 1016-75 手柄翻开式钻模 支架
232、 SJ 1017-75 手柄翻开式钻模 钻套
233、 SJ 1018-75 ＣＡ３０型管状非固体电解质烧结钽电容器
234、 SJ 1023-76 ＦＵ－８１型电子管
235、 SJ 1035-76 ２３ＳＸ５Ｂ型显像管
236、 SJ 1036-76 Ｂ－１型低噪声行波管
237、 SJ 1041-82 CBM-202B型双联薄膜介质可变电容器
238、 SJ 1051-76 Ｋ－１９型反射速调管
239、 SJ 1052-76 Ｋ－２０型反射速调管
240、 SJ 1053-76 Ｋ－２７型反射速调管
241、 SJ 1055-76 ＣＫＭ－３０型脉冲磁控管
242、 SJ 1056-76 ＣＫＭ－９９型脉冲磁控管
243、 SJ/Z 1081-76 电镀溶液分析方法的一般要求
244、 SJ/Z 1082-76 镀镍溶液典型分析方法
245、 SJ/Z 1083-76 镀铬溶液典型分析方法
246、 SJ/Z 1084-76 镀铜溶液典型分析方法
247、 SJ/Z 1085-76 镀锌溶液典型分析方法
248、 SJ/Z 1086-76 镀镉溶液典型分析方法
249、 SJ/Z 1087-76 镀锡溶液典型分析方法
250、 SJ/Z 1088-76 氧化镀银溶液典型分析方法
251、 SJ/Z 1089-76 镀金溶液典型分析方法
252、 SJ/Z 1090-76 镀铂溶液典型分析方法
253、 SJ/Z 1091-76 镀钯溶液典型分析方法
254、 SJ/Z 1092-76 镀铑溶液典型分析方法
255、 SJ/Z 1093-76 氰化镀铜锌合金（黄铜）溶液典型分析方法
256、 SJ/Z 1094-76 氰化镀铜锡合金溶液典型分析方法
257、 SJ/Z 1095-76 镀铅锡合金溶液典型分析方法
258、 SJ/Z 1096-76 合金镀层的典型分析方法
259、 SJ/Z 1097-76 其他溶液的典型分析方法
260、 SJ 1102-76 反向阻断型普通半导体闸流管（普通可控整流器）
261、 SJ 1120-76 ＦＵ－７型（Ｍ）电子管
262、 SJ 1121-76 ＦＵ－７型（Ｊ）电子管
263、 SJ/Z 1122-76 荧光数字符号指示管系列型谱
264、 SJ 1123-76 ＱＳ３０－１型辉光放电数字管
265、 SJ 1129-77 扬声器系统电声参数测试方法（暂行）
266、 SJ 1130-77 ２ＤＬ５１～５６、２ＣＬ５１～５６型硅高压整流堆
267、 SJ 1143-77 Ｂ－１０１型低噪声行波管
268、 SJ/T 1145-93 电容器用有机薄膜电性能试验方法通则
269、 SJ/T 1146-93 电容器用有机薄膜体积电阻率试验方法
270、 SJ/T 1148-93 电容器用有机薄膜击穿强度试验方法
271、 SJ 1152-77 粮食温度电子测量仪器技术条件
272、 SJ/T 1147-93 电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法
273、 SJ 1158-77 ＭＦ１１型普通用负温度系数热敏电阻器
274、 SJ 1159-77 ＭＦ１２型普通用负温度系数热敏电阻器
275、 SJ 1160-77 ＭＦ１３型普通负温度系数热敏电阻器
276、 SJ 1161-77 ＭＦ１４型普通用负温度系数热敏电阻器
277、 SJ 1162-77 ＭＦ１５型普通用负温度系数热敏电阻器
278、 SJ 1163-77 ＭＦ１６型普通用负温度系数热敏电阻器
279、 SJ 1165-77 阴极射线荧光粉 Ｙ６荧光粉
280、 SJ 1168-77 阴极射线荧光粉 Ｙ１２荧光粉
281、 SJ/Z 1171-77 电镀溶液极化曲线的测试方法
282、 SJ/Z 1172-77 电镀溶液分散能力的测定方法
283、 SJ/Z 1173-77 电镀溶液电流效率的测定方法
284、 SJ 1185-77 彩色电视测量测试卡（CT752卡）（暂行）
285、 SJ 1225-77 ２ＡＰ１１～２ＡＰ１７型锗检波二极管
286、 SJ 1226-77 ２ＡＰ９～２ＡＰ１０型锗检波二极管
287、 SJ 1227-77 ２ＡＰ１～２ＡＰ８、２ＡＰ２１和２ＡＰ２７型锗检波二极管
288、 SJ 1228-77 ２ＡＰ３０～２ＡＰ３１型锗宽带检波二极管
289、 SJ 1229-77 ２ＡＫ１～２０型锗开关二极管
290、 SJ 1241-77 纸介电容器总技术条件
291、 SJ 1247-77 ＣＺ４０型密封纸介电容器
292、 SJ 1248-77 ＣＺ４１型密封纸介电容器
293、 SJ 1249-77 ＣＺ８２型高压密封纸介电容器
294、 SJ 1263-77 单相变压器用ＸＥＤ、ＸＣＤ型Ｃ形铁芯
295、 SJ 1267-77 半导体器件用散热器在自然空气冷却状态下的热阻测试方法
296、 SJ 1269-77 ＦＢＪ型通心玻璃粉绝缘子
297、 SJ 1270-77 通心玻璃绝缘子
298、 SJ 1274-77 金刚石拉丝模
299、 SJ 1276-77 金属镀层和化学处理层质量检验技术要求
300、 SJ 1277-77 金属镀层和化学处理层质量检验验收规则
301、 SJ 1278-77 金属镀层和化学处理层外表的检验方法
302、 SJ 1279-77 金属镀层硬度的检验方法
303、 SJ 1280-77 金属镀层孔隙率的检验方法
304、 SJ 1281-77 金属镀层和化学处理层厚度的检验方法
305、 SJ 1282-77 金属镀层结合力的检验方法
306、 SJ 1283-77 金属镀层和化学处理层腐蚀试验方法
307、 SJ 1284-77 金属镀层腐蚀试验结果评定方法
308、 SJ 1285-77 铝和铝合金氧化处理层电气绝缘性能的测试方法
309、 SJ 2028-82 直热式正温度系数热敏电阻器总技术条件
310、 SJ 2028.1-83 ＭＺ１１型补偿用正温度系数热敏电阻器
311、 SJ 2028.2-83 ＭＺ６１型控温用正温度系数热敏电阻器
312、 SJ 2029-82 可见光光敏电阻器总技术条件
313、 SJ 2030-82 ＭＧ４１型密封硫化镉光敏电阻器
314、 SJ 2031-82 MG42型密封硫化镉光敏电阻器
315、 SJ 2052-82 ３０兆赫以下石英谐振器频率和等效电路参数的测量方法－传输法
316、 SJ 2053-82 石英谐振器寄生响应测量方法
317、 SJ 2056-82 号筒式电动扬声器技术条件
318、 SJ 2057-82 号筒式电动扬声器功率系列及基本参数
319、 SJ 2065-82 半导体器件生产用扩散炉测试方法
320、 SJ 2066-82 小模数渐开线圆柱齿轮通用技术条件
321、 SJ/Z 2067-82 电子工业专用设备锻件通用技术要求
322、 SJ/Z 2068-82 电子工业专用设备金属焊接通用技术要求
323、 SJ 2070-82 ＣＹ４０１型印制电路插座
324、 SJ 2072-82 半导体管电视机中频变压器及收音机短波振荡线圈磁芯
325、 SJ 2073-82 半导体管收音机中频变压器及振荡线圈磁芯
326、 SJ 2081-82 干簧管总技术条件
327、 SJ/Z 2082-82 永磁直流力矩电动机用稀土钴永磁体
328、 SJ 2085-82 聚氯乙烯绝缘安装软线
329、 SJ 2086-82 聚氯乙烯绝缘安装线
330、 SJ 2569-85 声表面波滤波器术语和定义
331、 SJ 2570-85 声表面波滤波器性能测试方法
332、 SJ 2089-82 电子测量仪器型号命名方法
333、 SJ/Z 2091-82 信息处理交换用七位编码字符集 键盘的常用控制键、功能键的排列和接口
334、 SJ 2092-82 ＣＳ３５型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
335、 SJ 2093-82 ＣＳ３６型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
336、 SJ 2094-82 ＣＳ３７型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
337、 SJ 2095-82 ＣＳ３８型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
338、 SJ 2096-82 ＣＳ３９型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
339、 SJ 2097-82 ＣＳ４０型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
340、 SJ 2098-82 ＣＳ４１型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
341、 SJ 2099-82 ＣＳ４２型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
342、 SJ 2100-82 ＣＳ４３型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
343、 SJ 2101-82 ＣＳ４４型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
344、 SJ 2102-82 ＣＳ４５型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
345、 SJ 2103-82 ＣＳ４６型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
346、 SJ 2104-82 ＣＳ４７型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
347、 SJ 2105-82 ＣＳ４８型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
348、 SJ 2106-82 ＣＳ４９型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
349、 SJ 2107-82 ＣＳ５０型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
350、 SJ 2108-82 ＣＳ５１型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
351、 SJ 2109-82 CKM-29B、CKM-29C、CKM-29D、CKM-29E、CKM-29F、CKM-29G型脉冲磁控管
352、 SJ 2112-82 厅堂扩声系统设备互联的优选电气配接值
353、 SJ 2124-82 弹性管联轴节
354、 SJ 2125-82 十字滑块联轴节
355、 SJ 2126-82 波纹管联轴节
356、 SJ 2127-82 薄膜联轴节
357、 SJ 2130-82 电子束管屏内刻度
358、 SJ 2131-82 洁净工作台通用技术条件
359、 SJ 2133-82 氧化物阴极加速寿命试验方法
360、 SJ 2137-82 硅稳流二极管测试方法总则
361、 SJ 2138-82 硅稳流二极管稳定电流的测试方法
362、 SJ 2139-82 硅稳流二极管动态阻抗的测试方法
363、 SJ 2140-82 硅稳流二极管极限电压的测试方法
364、 SJ 2141-82 硅稳流二极管击穿电压的测试方法
365、 SJ 2142-82 硅稳流二极管电流温度系数的测试方法
366、 SJ 2148-82 硅稳流三极管动态阻抗的测试方法
367、 SJ 2152-82 烧结含油轴承
368、 SJ 2154-82 薄膜集成电路用微晶玻璃基片
369、 SJ/Z 2165-82 单相Ｃ型铁芯电源变压器和滤波阻流圈典型计算
370、 SJ 2168-82 涂覆用环氧粉末
371、 SJ 2170-82 一般电子产品运输包装基本试验方法 总则
372、 SJ 2176-82 电子产品防潮包装容器透湿度试验方法
373、 SJ 2179-82 压电滤波器术语和定义
374、 SJ 2182-82 压电滤波器总技术条件
375、 SJ 2193-82 整流滤波阻流圈电气参数系列
376、 SJ 2194-82 ＣＤＬ－１００／Ｃ型Ｃ型铁芯滤波阻流圈（电容输入式）
377、 SJ 2195-82 ＣＤＬ－１００／Ｌ型Ｃ型铁芯滤波阻流圈（电感输入式）
378、 SJ 2196-82 地面用硅太阳电池电性能测试方法
379、 SJ 2197-82 地面用标准硅太阳电池的标定
380、 SJ 2199-82 电声器件名词术语
381、 SJ 2206-82 Ｋ－２１系列反射速调管
382、 SJ 2214.1-82 半导体光敏管测试方法总则
383、 SJ 2214.2-82 半导体光敏二极管正向压降的测试方法
384、 SJ 2214.3-82 半导体光敏二极管暗电流的测试方法
385、 SJ 2214.4-82 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
386、 SJ 2214.5-82 半导体光敏二极管结电容的测试方法
387、 SJ 2214.6-82 半导体光敏三极管集电极－发射极反向击穿电压的测试方法
388、 SJ 2214.7-82 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
389、 SJ 2214.8-82 半导体光敏三极管暗电流的测试方法
390、 SJ 2214.9-82 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
391、 SJ 2214.10-82 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
392、 SJ 2215.1-82 半导体光耦合器测试方法总则
393、 SJ 2215.2-82 半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法
394、 SJ 2215.3-82 半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法
395、 SJ 2215.4-82 半导体光耦合器（二极管）反向电流的测试方法
396、 SJ 2215.5-82 半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法
397、 SJ 2215.6-82 半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法
398、 SJ 2215.7-82 半导体光耦合器集电极－发射极反向击穿电压的测试方法
399、 SJ 2215.8-82 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
400、 SJ 2215.9-82 半导体光耦合器（三极管）反向截止电流的测试方法
401、 SJ 2215.10-82 半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法
402、 SJ 2215.11-82 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法
403、 SJ 2215.12-82 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
404、 SJ 2215.13-82 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
405、 SJ 2215.14-82 半导体光耦合器入出间绝缘耐压的测试方法
406、 SJ 2216-82 硅光敏二极管
407、 SJ 2217-82 硅光敏三极管
408、 SJ 2218-82 半导体光敏二极管型光耦合器
409、 SJ 2219-82 半导体光敏三极管型光耦合器
410、 SJ 2220-82 半导体达林顿型光耦合器
411、 SJ 2221-82 中、小型系列组合夹具技术要求
412、 SJ 2222-82 中、小型系列组合夹具编号规则
413、 SJ 2223-82 中型系列组合夹具结构要素
414、 SJ 2224-82 小型系列组合夹具结构要素
415、 SJ 2225-82 中型系列组合夹具类型和规格尺寸
416、 SJ 2226-82 小型系列组合夹具类型和规格尺寸
417、 SJ 2232-82 厚膜、薄膜集成电路金属外壳技术条件
418、 SJ 2231-82 厚膜、薄膜集成电路直流稳压电源系列和品种
419、 SJ 2240-82 空气介质片型微调电容器总技术条件
420、 SJ 2240.1-82 ＣＷ１和ＣＷ１Ｓ型空气介质片型微调电容器
421、 SJ 2240.2-82 ＣＷ２和ＣＷ２Ｓ型空气介质片型微调电容器
422、 SJ 2240.3-82 ＣＷ３和ＣＷ３Ｓ型空气介质片型微调电容器
423、 SJ 2240.4-82 ＣＷ３１型空气介质片型微调电容器
424、 SJ 2240.5-82 ＣＷ３２型空气介质片型微调电容器
425、 SJ 2240.6-82 ＣＷ４１和ＣＷ４１Ｓ型空气介质片型微调电容器
426、 SJ 2240.7-82 ＣＷ４２型空气介质片型微调电容器
427、 SJ 2240.8-82 ＣＷ５和ＣＷ５Ｓ型空气介质片型微调电容器
428、 SJ 2241-82 同心型微调电容器总技术条件
429、 SJ 2241.1-82 ＣＷＴ２型同心型微调电容器
430、 SJ 2241.2-82 ＣＷＴ４Ｙ型同心型微调电容器
431、 SJ 2241.3-82 ＣＷＴ５Ｙ型同心型微调电容器
432、 SJ 2241.4-82 ＣＷＴ６型同心型微调电容器
433、 SJ 2241.5-82 ＣＷＴ７Ｌ型同心型微调电容器
434、 SJ 2241.6-82 ＣＷＴ８Ｚ型同心型微调电容器
435、 SJ 2241.7-82 ＣＷＴ９Ｊ型同心型微调电容器
436、 SJ 2242-82 散热器强制风冷热阻测试方法
437、 SJ 2244-82 ＲＸ－５４型微波气体放电管
438、 SJ 2245-82 ＲＸ－７型微波气体放电管
439、 SJ 2246-82 ＲＸ２０２、ＲＸ２０３型微波气体放电管
440、 SJ 2247-82 半导体光电子器件外形尺寸
441、 SJ 2253-82 阴极碳酸盐颗粒度的测定方法
442、 SJ 2254-82 阴极碳酸盐分析方法的一般要求（暂行）
443、 SJ 1286-77 ＦＵ－１０５Ｚ型电子管
444、 SJ 1287-77 ＦＵ－１０１Ｆ（Ｚ）型电子管
445、 SJ 1381-78 实验二极管结构与工艺
446、 SJ 1382-78 ＦＵ－８２２Ｚ（Ｆ）型电子管
447、 SJ 1383-78 ＦＵ－１０４Ｚ型电子管
448、 SJ 1385-78 噪声二极管和气体放电噪声管总技术条件
449、 SJ 1386-78 噪声二极管和气体放电噪声管测试条件
450、 SJ 1387-78 噪声二极管灯丝电流和灯丝电压的测试方法
451、 SJ 1388-78 噪声二极管阳极电导的测试方法
452、 SJ 1389-78 噪声二极管极间漏电流的测试方法
453、 SJ 1390-78 噪声二极管超噪功率非线性系数的测试方法
454、 SJ 1391-78 噪声二极管冷态电压驻波系数的测试方法
455、 SJ 1392-78 噪声二极管超噪功率的测试方法
456、 SJ 1393-78 气体放电噪声管阴极预热时间的测试方法
457、 SJ 1394-78 气体放电噪声管着火电压的测试方法
458、 SJ 1395-78 气体放电噪声管阳极电流和管压降的测试方法
459、 SJ 1396-78 气体放电噪声管电压驻波系数的测试方法
460、 SJ 1397-78 气体放电噪声管衰减量的测试方法
461、 SJ 1398-78 气体放电噪声管超噪比及其不稳定度的测试方法
462、 SJ 1405-78 ３ＤＡ１型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
463、 SJ 1406-78 ３ＤＡ９６型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
464、 SJ 1407-78 ３ＤＡ４型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
465、 SJ 1408-78 ３ＤＡ１０１型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
466、 SJ 1409-78 ３ＤＡ３型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
467、 SJ 1410-78 ３ＤＡ９８型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
468、 SJ 1411-78 ３ＤＡ５型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
469、 SJ 1412-78 ３ＤＡ１４型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
470、 SJ 1413-78 ３ＤＡ２型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
471、 SJ 1414-78 ３ＤＡ１０２型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
472、 SJ 1415-78 ３ＤＡ２８型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
473、 SJ 1416-78 ３ＤＡ１００型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
474、 SJ 1417-78 ３ＤＡ１０３型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
475、 SJ 1418-78 ３ＤＡ１０型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
476、 SJ 1419-78 ３ＤＡ１８型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
477、 SJ 1420-78 ３ＤＡ１０４型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
478、 SJ 1421-78 ３ＤＡ２２型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
479、 SJ 1422-78 ３ＤＡ３７型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
480、 SJ 1423-78 ３ＤＡ３２型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
481、 SJ 1424-78 ３ＤＡ１０５型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
482、 SJ 1425-78 ３ＤＡ１０６型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
483、 SJ 1426-78 ３ＤＡ２１型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
484、 SJ 1427-78 ３ＤＡ９２型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
485、 SJ 1428-78 ３ＤＡ１０７型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
486、 SJ 1429-78 ３ＤＡ１０８型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
487、 SJ 1430-78 ３ＤＡ８９型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
488、 SJ 1431-78 ３ＤＡ３９型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
489、 SJ 1436-78 ＣＫＭ－１０４型脉冲磁控管
490、 SJ 1437-78 ＣＫＭ－１０４Ｂ型脉冲磁控管
491、 SJ 1438-78 ＣＫＭ－１１４型脉冲磁控管
492、 SJ 1439-78 ＣＫＭ－１１４Ｂ型脉冲磁控管
493、 SJ 1457-79 低速型、中速型通用电子计数器技术条件
494、 SJ 1458-79 电子计数器测试方法
495、 SJ/Z 1463-79 无线电陶瓷材料化学分析方法的一般要求
496、 SJ/Z 1464-79 矿物原料的化学分析方法
497、 SJ/Z 1465-79 陶瓷坯料的化学分析方法
498、 SJ/Z 1466-79 化工原料的化学分析方法
499、 SJ 1468-79 ３ＣＧ１００型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
500、 SJ 1469-79 ３ＣＧ１０１型ＰＮＰ硅平面高频小功率三极管
501、 SJ 1470-79 ３ＣＧ１０２型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
502、 SJ 1471-79 ３ＣＧ１０３型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
503、 SJ 1472-79 ３ＣＧ１１０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
504、 SJ 1473-79 ３ＣＧ１１１型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
505、 SJ 1474-79 ３ＣＧ１１２型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
506、 SJ 1475-79 ３ＣＧ１１３型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
507、 SJ 1476-79 ３ＣＧ１１４型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
508、 SJ 1477-79 ３ＣＧ１２０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
509、 SJ 1478-79 ３ＣＧ１２１型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
510、 SJ 1479-79 ３ＣＧ１２２型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
511、 SJ 1480-79 ３ＣＧ１３０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
512、 SJ 1481-79 ３ＣＧ１３１型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
513、 SJ 1482-79 ３ＣＧ１３２型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
514、 SJ 1483-79 ３ＣＧ１４０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率低噪声三极管
515、 SJ 1484-79 ３ＣＧ１６０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率高反压三极管
516、 SJ 1485-79 ３ＣＧ１７０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率高反压三极管
517、 SJ 1486-79 ３ＣＧ１８０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率高反压三极管
518、 SJ 1487-79 反向阻断型高频半导体闸流管
519、 SJ 1488-79 反向阻断型高频半导体闸流管额定高频通态平均电流ＩT的测试方法
520、 SJ/T 1505-97 旋磁铁氧体材料成品、半成品化学分析方法
521、 SJ 1512-79 扬声器用Φ４０～１１５ｍｍ永磁铁氧体磁体尺寸系列
522、 SJ 1515-79 微动开关总技术条件
523、 SJ 1516-79 ＫＷ１型微动开关
524、 SJ 1517-79 ＫＷ２型微动开关
525、 SJ 1518-79 ＫＷ３型微动开关
526、 SJ 1519-79 ＫＷ４型微动开关
527、 SJ 1520-79 ＫＷ５型微动开关
528、 SJ 1521-79 钮子开关总技术条件
529、 SJ/Z 1526-79 锌银碱性蓄电池系列型谱
530、 SJ 1531-79 金属陶瓷电子管引出环接触直径系列
531、 SJ 1532-79 ＣＫＭ－５５～５７系列脉冲磁控管
532、 SJ 1533-79 ＦＵ－４３３Ｓ型发射管
533、 SJ 1538-87 电真空器件用镍及镍合金化学成分
534、 SJ 1540-87 电真空器件用镍及镍合金丝
535、 SJ 1541-87 电真空器件用镍及镍合金带
536、 SJ 1539-87 电真空器件用镍及镍合金薄壁管
537、 SJ 1542-87 电真空器件用镍及镍合金化学分析方法
538、 SJ 1543-88 电真空器件用镍及镍合金光谱分析方法
539、 SJ/Z 1544-79 镍钨镁合金的光谱分析方法
540、 SJ 1545-79 ＣＫＭ－１２０型脉冲磁控管
541、 SJ 1546-79 ＣＫ－１４０Ｂ型连续波磁控管
542、 SJ 1547-79 ＣＫ－１４１型连续波磁控管
543、 SJ 1549-79 硅外延片（暂行）
544、 SJ 1550-79 硅外延片检测方法
545、 SJ 1551-79 硅外延层电阻率测试方法（电容－电压法）（暂行）
546、 SJ 1554-80 ＭＦ５１型珠状热敏电阻器
547、 SJ 1555-80 ＭＦ５２型珠状热敏电阻器
548、 SJ 1558-80 ＭＦ４１型和ＭＦ４４型旁热型负温度系数热敏电阻器
549、 SJ 1559-80 稳压型负温度系数热敏电阻器总技术条件
550、 SJ 1560-80 ＭＦ２１型和ＭＦ２２型稳压型负温度系数热敏电阻器
551、 SJ 1563-80 实心聚四氟乙烯绝缘同轴射频电缆（暂行）
552、 SJ 1575-80 ＢＢ－１Ａ型＂Ｏ＂型返波管
553、 SJ 1583-80 玻璃介质微调电容器总技术条件
554、 SJ 1584-80 ＣＷＢ５１型玻璃介质微调电容器
555、 SJ 1585-80 温差发电器型号命名方法
556、 SJ 1587-80 电真空器件用钍钨铼丝
557、 SJ 1590-80 铈钨粉、块、杆中氧化铈的分析方法
558、 SJ 1591-80 电真空器件用钍钨铼丝中氧化钍和铼的分析方法
559、 SJ 1594-80 ＫＺＪ１型直键开关
560、 SJ 1595-80 ＫＺＪ２型直键开关
561、 SJ 1596-80 ＸＤ５１－２０、４０／１００，ＸＤ５１－２０、４０／１２５型旋转阳极Ｘ射线管
562、 SJ 1598-80 ＦＵ－２３Ｓ（Ｚ）型发射管
563、 SJ 1617-80 ＣＫ－６０３型连续波磁控管
564、 SJ 1618-80 温差发电器名词术语
565、 SJ 1619-80 半导体管电视广播接收机用中频变压器及可调线圈
566、 SJ 1620-80 ＴＭ－９０型（Ｊ）脉冲调制管
567、 SJ 1627-80 ＣＫＭ－１４Ｈ型脉冲磁控管
568、 SJ 1628-80 冷冲压零件尺寸公差
569、 SJ 1624-80 微波铁氧体隔离器、环行器总技术条件
570、 SJ 1625-80 微波铁氧体同轴隔离器、环行器
571、 SJ 1626-80 微波铁氧体波导隔离器、环行器
572、 SJ 1632-80 波导元件型号命名方法
573、 SJ/T 1635-96 电子工业管路的基本识别色和识别符号
574、 SJ 1636-80 ３ＤＤ１５１型、３ＤＤ１５２型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
575、 SJ 1637-80 ３ＤＤ１５３型、３ＤＤ１５４型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
576、 SJ 1638-80 ３ＤＤ１５５型、３ＤＤ１５６型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
577、 SJ 1639-80 ３ＤＤ１５７型、３ＤＤ１５８型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
578、 SJ 1640-80 ３ＤＤ１５９型、３ＤＤ１６０型、３ＤＤ１６１型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
579、 SJ 1641-80 ３ＤＤ１６２型、３ＤＤ１６３型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
580、 SJ 1642-80 ３ＤＤ１６４型、３ＤＤ１６５型、３ＤＤ１６６型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
581、 SJ 1643-80 ３ＤＤ１６７型、３ＤＤ１６８型、３ＤＤ１６９型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
582、 SJ 1644-80 ３ＤＤ１７０型、３ＤＤ１７１型、３ＤＤ１７２型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
583、 SJ 1645-80 ３ＤＤ１７３型、３ＤＤ１７４型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
584、 SJ 1646-80 ３ＤＤ１７５型、３ＤＤ１７６型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
585、 SJ 1647-80 ３ＤＤ２５３型、３ＤＤ２５４型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
586、 SJ 1648-80 ３ＤＤ２５５型、３ＤＤ２５６型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
587、 SJ 1649-80 ３ＤＤ２５７型、３ＤＤ２５８型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
588、 SJ 1650-80 ３ＤＤ２５９型、３ＤＤ２６０型、３ＤＤ２６１型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
589、 SJ 1651-80 ３ＤＤ２６２型、３ＤＤ２６３型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
590、 SJ 1652-80 ３ＤＤ２６４型、３ＤＤ２６５型、３ＤＤ２６６型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
591、 SJ 1653-80 ３ＤＤ２６７型、３ＤＤ２６８型、３ＤＤ２６９型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
592、 SJ 1654-80 ３ＤＤ２７０型、３ＤＤ２７１型、３ＤＤ２７２型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
593、 SJ 1655-80 ３ＤＤ２７５型、３ＤＤ２７６型ＮＰＮ硅扩散台面低频大功率三极管
594、 SJ 1657-80 铜垫密封超高真空法兰型式及尺寸系列
595、 SJ 1659-80 铜密封垫型式及尺寸系列
596、 SJ 1661-80 电子工业专用设备热处理技术要求（暂行）
597、 SJ 1666-80 ＦＭ－１５０型电子管
598、 SJ 1667-80 ＦＭ－１２Ｆ型电子管
599、 SJ 1668-80 ＦＭ－１１０、ＦＭ－１１０Ｆ型电子管
600、 SJ 1671-80 雷达用低压直流稳压电源技术条件
601、 SJ 1672-80 ３ＤＧ２５３型ＮＰＮ硅正向自动增益控制高频小功率三极管
602、 SJ 1673-80 ３ＤＧ２５４型ＮＰＮ硅正向自动增益控制高频小功率三极管
603、 SJ 1674-80 ３ＤＧ２５５型ＮＰＮ硅图象中放末级三极管
604、 SJ 1682-80 ３ＤＡ１５１型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
605、 SJ 1683-80 ３ＤＡ１５２型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
606、 SJ 1686-80 ３ＤＤ２０２型ＮＰＮ硅低频大功率三极管
607、 SJ 1689-80 ３ＤＤ２０５型ＮＰＮ硅低频大功率三极管
608、 SJ 1690-80 ３ＤＤ２０６型ＮＰＮ硅低频大功率三极管
609、 SJ 1692-80 ３ＤＤ２０８型ＮＰＮ硅低频大功率三极管
610、 SJ 1693-80 ３ＡＤ１５０型ＰＮＰ锗低频大功率三极管
611、 SJ 1676-81 ＦＵ－８２４Ｓ（Ｆ）型电子管
612、 SJ 1677-80 光纤光缆名词术语
613、 SJ 1678-80 纤维光学连接器名词术语
614、 SJ 1703-81 小功率电子管加速寿命试验方法
615、 SJ 1704-81 功率速调管总技术条件
616、 SJ 1705-81 功率速调管测试条件
617、 SJ 1706-81 功率速调管电子注流通率的测试方法
618、 SJ 1707-81 功率速调管增益的测试方法
619、 SJ 1708-81 功率速调管带宽的测试方法
620、 SJ 1709-81 功率速调管激励功率的测试方法
621、 SJ 1710-81 功率速调管输出功率的测试方法
622、 SJ 1711-81 功率速调管工作频率范围的测试方法
623、 SJ 1712-81 功率速调管频率可重调性的测试方法
624、 SJ 1713-81 功率速调管相移的测试方法
625、 SJ 1714-81 功率速调管互调失真比的测试方法
626、 SJ 1716-81 功率速调管脉冲特性的测试方法
627、 SJ 1717-81 功率速调管脉冲电压的测试方法
628、 SJ 1718-81 功率速调管阴极脉冲电流的测试方法
629、 SJ 1719-81 功率速调管振荡频率的测试方法
630、 SJ 1720-81 功率速调管频谱的测试方法
631、 SJ 1721-81 功率速调管频率温度系数的测试方法
632、 SJ 1722-81 ＣＫＭ－１７４～１７６型脉冲磁控管
633、 SJ 1723-81 ＲＸ－３２型微波气体放电管
634、 SJ 1724-81 ＲＸ－５６型微波气体放电管
635、 SJ 1725-81 ＲＸ－６１型微波气体放电管
636、 SJ 1726-81 ＲＸ－１０９型微波气体放电管
637、 SJ 1735-81 通信电声器件总技术条件
638、 SJ 1738-81 通信用电声组合件电声试验方法
639、 SJ 1739-81 通信电声器件外形尺寸系列
640、 SJ 1741-81 电子设备用非密封电磁继电器系列型谱
641、 SJ 1743-81 Ｘ型小圆形插头座
642、 SJ 1746-81 电子工业专用设备机箱机柜技术条件
643、 SJ 1748-81 UY12、UY16铁氧体U型磁芯
644、 SJ 1749-81 音叉音片谐振器型号命名方法
645、 SJ 1750-81 音叉音片谐振器名词术语
646、 SJ 1751-81 音叉音片谐振器标称频率系列
647、 SJ 1752-81 指轮开关总技术条件
648、 SJ 1753-81 ＫＬ１型指轮开关
649、 SJ 1754-81 ＫＬ３型指轮开关
650、 SJ 1760-81 单相变压器用ＢＯＤ型环形铁芯
651、 SJ 1761-81 单相变压器用BCD型C形铁芯（暂行）
652、 SJ/Z 1762-81 单相５０ＨｚＣ型铁芯电源变压器和滤波阻流圈典型计算
653、 SJ/Z 1758-81 ４００ＨＺ三相Ｅ型铁芯电源变压器典型计算
654、 SJ/Z 1763-81 ５０Ｈｚ三相Ｅ型铁芯电源变压器典型计算
655、 SJ/T 1766-97 软磁铁氧体铁材料分类
656、 SJ 1774-81 真空设备观察窗
657、 SJ 1775-81 陶瓷、金属封接式电极
658、 SJ 1767-81 真空设备金属钟罩 公称直径
659、 SJ 1768-81 真空设备金属钟罩 筒体
660、 SJ 1769-81 真空设备金属钟罩 封头
661、 SJ 1770-81 真空设备金属钟罩 法兰
662、 SJ 1771-81 真空设备金属钟罩 密封圈
663、 SJ 1776-81 ＧＫ－１００～６００超高真空金属油扩散泵结构型式与参数系列
664、 SJ 1777-81 ＣＫ－１００～６００超高真空金属油扩散泵技术条件
665、 SJ 1778-81 ＣＫ－１００～６００超高真空金属油扩散泵试验方法
666、 SJ 1779-81 普通二极型溅射离子泵 参数系列
667、 SJ 1780-81 普通二极型溅射离子泵 技术条件
668、 SJ 1781-81 溅射离子泵 试验方法
669、 SJ 1783-81 电真空陶瓷零件技术条件
670、 SJ 1784-81 ＱＬ１～９和ＱＬ２１～２８硅单相桥式整流器
671、 SJ 1785-81 ５Ａ以下硅单相桥式整流器测试方法总则
672、 SJ 1786-81 ５Ａ以下硅单相桥式整流器正向压降的测试方法
673、 SJ 1787-81 ５Ａ以下硅单相桥式整流器额定反向工作峰值电压及反向电流的测试方法
674、 SJ 1788-81 ５Ａ以下硅单相桥式整流器工作结温的测试方法
675、 SJ 1789-81 ５Ａ以下硅单相桥式整流器最高工作频率的测试方法
676、 SJ 1790-81 ５Ａ以下硅单相桥式整流器电流过载倍数的测试方法
677、 SJ 1791-81 ５Ａ以下硅单相桥式整流器绝缘强度的测试方法
678、 SJ/Z 1792-81 电子工业专用设备电气装配技术要求
679、 SJ 1794-81 半导体器件生产用扩散炉通用技术条件
680、 SJ 1795-81 ５０－１０００ｍＡ小电流半导体闸流管
681、 SJ 1802-81 ＦＵ－１１３Ｚ（Ｆ）型电子管
682、 SJ 1804-81 2CC101~104、2CC201~204、2CC301~304、2CC401~404型硅调谐变容二极管
683、 SJ 1805-81 ２ＣＣ１２６型硅调频变容二极管
684、 SJ 1806-81 2CC110、210、310、410、、2CC130型硅频段转换二极管
685、 SJ 1807-81 2CC120、122、124、2CC220、222、224、2CC320、322、324、2CC420、422、424型硅调谐变容二极管
686、 SJ 1819-81 小模数齿轮模数、齿数、齿宽、基准孔直径优选系列
687、 SJ 1820-81 优选小模数圆柱直齿轮
688、 SJ 1821-81 优选小模数圆柱直齿片齿轮
689、 SJ 1822-81 优选小模数圆锥直齿轮
690、 SJ 1823-81 优选小模数圆柱直齿双片齿轮（暂行）
691、 SJ 1824-81 小模数蜗轮蜗杆优选结构尺寸
692、 SJ 1825-81 ３ＤＫ２１型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
693、 SJ 1826-81 ３ＤＫ１００型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
694、 SJ 1827-81 ３ＤＫ６型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
695、 SJ 1828-81 ３ＤＫ５３型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
696、 SJ 1829-81 ３ＤＫ５型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
697、 SJ 1830-81 ３ＤＫ１０１型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
698、 SJ 1831-81 ３ＤＫ２８型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
699、 SJ 1832-81 ３ＤＫ１０２型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
700、 SJ 1833-81 ３ＤＫ１０３型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
701、 SJ 1834-81 ３ＤＫ１０４型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
702、 SJ 1838-81 ３ＤＫ２９型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
703、 SJ 1839-81 ３ＤＫ１０８型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
704、 SJ 1840-81 ３ＤＫ１４型ＮＰＮ硅外延平面小功率开关三极管
705、 SJ 1841-81 ３ＣＫ１００型ＰＮＰ硅外延平面小功率开关三极管
706、 SJ 1842-81 ３ＣＫ１１０型ＰＮＰ硅外延平面小功率开关三极管
707、 SJ 1843-81 ３ＣＫ１１１型ＰＮＰ硅外延平面小功率开关三极管
708、 SJ 1844-81 ３ＣＫ１１２型ＰＮＰ硅外延平面小功率开关三极管
709、 SJ 1845-81 ３ＣＫ１１３型ＰＮＰ硅外延平面小功率开关三极管
710、 SJ 1846-81 ３ＣＫ１２０型ＰＮＰ硅外延平面小功率开关三极管
711、 SJ 1847-81 ３ＣＫ１２１型ＰＮＰ硅外延平面小功率开关三极管
712、 SJ 1848-81 ３ＣＫ１３０型ＰＮＰ硅外延平面小功率开关三极管
713、 SJ/Z 1850-81 中小功率音频变压器设计
714、 SJ 1852-81 晶体振荡器名词术语
715、 SJ 1860-81 功率速调管调幅－调相转换系数的测试方法
716、 SJ 1861-81 ＹＳ９－３型荧光数字指示管
717、 SJ 1862-81 ＹＳ１３－３型荧光数字指示管
718、 SJ 1866-81 JZ型接线柱
719、 SJ 1867-81 ＬＣ型和ＷＣ型检查插孔
720、 SJ 1869-81 ＫＦ－１１５型连续波功率放大速调管
721、 SJ 1871-81 气体激光器的测试条件
722、 SJ 1872-81 气体激光器着火电压的测试方法
723、 SJ 1873-81 气体激光器最佳工作电流的测试方法
724、 SJ 1874-81 气体激光器管压降的测试方法
725、 SJ 1875-81 气体激光器输出功率的测试方法
726、 SJ 1876-81 气体激光器输出功率稳定性的测试方法
727、 SJ 1877-81 气体激光器光束方向偏移的测试方法
728、 SJ 1878-81 气体激光器横模的鉴别方法
729、 SJ 1879-81 气体激光器发散角的测试方法
730、 SJ 1880-81 气体激光器频率漂移的测试方法
731、 SJ 1881-81 气体激光器偏振度的测试方法
732、 SJ 1882-81 收音机用空气介质可变电容器总技术条件
733、 SJ 1885-81 复合介质电容器总技术条件
734、 SJ 1886-81 热敏电阻器的标志内容与标志方法
735、 SJ 1887-81 热敏电阻器的主要参数系列
736、 SJ 1893-81 电子管管座、石英谐振器插座总技术条件
737、 SJ 1898-81 ＧＺＣ５－１型五脚陶瓷管座
738、 SJ 1899-81 ＧＺＣ７－１Ａ和ＧＺＳ７－１Ａ型七脚管座
739、 SJ 1900-81 ＧＺＣＡ７－１Ａ型七脚陶瓷管座
740、 SJ 1904-81 ＧＺＣ７－１Ｂ和ＧＺＳ７－１Ｂ型七脚管座
741、 SJ 1906-81 ＧＺＣ８－１和ＧＺＳ８－１型八脚管座
742、 SJ 1912-81 ＧＺＣ９－１和ＧＺＳ９－１型九脚管座
743、 SJ/Z 1941-81 电子工业专用设备机械加工通用技术要求
744、 SJ 1943-81 ２ＣＬ（２ＤＬ）１２－２０型高压硅堆
745、 SJ 1944-81 ２ＣＬ（２ＤＬ）３０－３３、２ＣＬ（２ＤＬ）４０～４３型高压硅堆
746、 SJ 1945-81 ２ＣＮ（２ＤＮ）１Ｄ～２Ｄ、２ＣＮ（２ＤＮ）３Ｄ～３Ｋ、２ＣＮ（２ＤＮ）６Ｄ～６Ｋ型硅阻尼二极管
747、 SJ 1946-81 ２ＣＮ（２ＤＮ）４Ｃ、２ＣＮ（２ＤＮ）５Ｃ型硅升压二极管
748、 SJ 1947-81 ２ＣＺ（２ＤＺ）３２Ｂ、２ＣＺ（２ＤＺ）３３Ｂ型硅电源整流二极管
749、 SJ 1974-81 Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ１型低频场效应半导体管
750、 SJ 1975-81 Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ２型低频场效应半导体管
751、 SJ 1976-81 Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ３型低频场效应半导体管
752、 SJ 1978-81 Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ５型高频场效应半导体管
753、 SJ 1948-81 2CZ（2DZ）90D~90J、2CZ（2DZ）91D~91J、2CZ（2DZ）92D~92J型硅高频整流二极管
754、 SJ 1977-81 Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ４型高频场效应半导体管
755、 SJ 1979-81 Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ６型高频场效应半导体管
756、 SJ 1980-81 Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ７型高频场效应半导体管
757、 SJ 1981-81 Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ８型高频场效应半导体管
758、 SJ 1982-81 Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ９型高频场效应半导体管
759、 SJ 1983-81 Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ１０型低频低噪声场效应半导体管
760、 SJ 1984-81 Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ１１型低频低噪声场效应半导体管
761、 SJ 1985-81 Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ１２型低频低噪声场效应半导体管
762、 SJ 1986-81 Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ１３型低频低噪声场效应半导体管
763、 SJ 1987-81 Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ１４型低频低噪声场效应半导体管
764、 SJ 1988-81 Ｎ沟道结型场效应半导体管 ＣＳ１５型低频低噪声场效应半导体管
765、 SJ 1989-81 ＣＳ１９型Ｎ沟道结型低频场效应半导体对管
766、 SJ 1990-81 ＣＳ２０型Ｎ沟道低频结型场效应半导体对管
767、 SJ 1991-81 ＣＳ２１型Ｎ沟道结型低频场效应半导体对管
768、 SJ 1992-81 ＣＳ２２型Ｎ沟道结型低频场效应半导体对管
769、 SJ 1993-81 ＣＳ２３型Ｎ沟道结型低频低噪声场效应半导体对管
770、 SJ 1994-81 ＣＳ２４型Ｎ沟道结型低频低噪声场效应半导体对管
771、 SJ 1995-81 ＣＳ２５型Ｎ沟道结型低频低噪声场效应半导体对管
772、 SJ 1996-81 ＣＳ２６型Ｎ沟道结型低频低噪声场效应半导体对管
773、 SJ 1997-81 ＣＳ２７型Ｎ沟道结型低频低噪声场效应半导体对管
774、 SJ 1998-81 ＣＳ２８型Ｎ沟道结型低频低噪声场效应半导体对管
775、 SJ 1999-81 ＣＳ２９型Ｎ沟道结型低频低噪声场效应半导体对管
776、 SJ 2000-81 ＣＳ３０型Ｎ沟道结型低频低噪声场效应半导体对管
777、 SJ 2001-81 ＣＳ３１型Ｎ沟道结型低频低噪声场效应半导体对管
778、 SJ 2002-81 ＣＳ３２型Ｎ沟道结型低频低噪声场效应半导体对管
779、 SJ 2003-81 ＣＳ３３型Ｎ沟道结型低频低噪声场效应半导体对管
780、 SJ 2004-81 ＣＳ３４型Ｎ沟道结型低频低噪声场效应半导体对管
781、 SJ 2005-82 微波二极管外形尺寸
782、 SJ 2006-82 盘式磁带录音机磁头分类及基本参数
783、 SJ 2008-82 ＲＸ－５型微波气体放电管
784、 SJ 2009-82 ＲＸ－４９型微波气体放电管
785、 SJ 2010-82 ＦＺ－１０型气体放电噪声管
786、 SJ 2011-82 ＢＢ－１０９型、ＢＢ－１０９Ａ型“Ｏ”型返波管
787、 SJ 2012-82 Ｂ－２１１型功率行波管
788、 SJ 2013-82 Ｂ－２１８型功率行波管
789、 SJ/Z 2014-82 质量管理名词术语
790、 SJ 2664-86 氦氖激光器的加速寿命试验方法
791、 SJ 2665-86 薄膜介质调谐可变电容器总技术条件
792、 SJ 2666-86 薄膜介质调谐可变电容器结构型式及尺寸
793、 SJ 2667-86 光纤光缆数值孔径测量方法
794、 SJ 2668-86 光纤光缆衰减测量方法
795、 SJ 2669-86 圆导体无屏蔽带状电缆总规范
796、 SJ 2670-86 永磁低速同步电动机
797、 SJ 2671-86 纵横制用户交换机安装验收规则
798、 SJ 2703-86 ＣＢＭ－４４３ＤＦ型调频调幅四联薄膜介质可变电容器
799、 SJ 2706-86 ＣＢＭ－２２３Ｐ型差容双联薄膜介质可变电容器
800、 SJ 2715-86 电子产品用字体和符号
801、 SJ/T 10148.2-91 电气简图的编制方法 一般规则
802、 SJ 2672.1-86 电子元器件详细规范 ３ＤＡ３０１型１７５ＭＨｚ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
803、 SJ 2672.2-86 电子元器件详细规范 ３ＤＡ３０２型１７５ＭＨｚ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
804、 SJ 2673.1-86 电子元器件详细规范 ３ＤＡ３１１型４７０ＭＨｚ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
805、 SJ 2682-86 电子元器件详细规范 ＷＨ１５－Ｋ２型低功率电位器 评定水平Ｅ
806、 SJ 2683-86 电子元器件详细规范 ＷＨ１１２型预调电位器 评定水平Ｅ
807、 SJ 2672.3-86 电子元器件详细规范 ３ＤＡ３０３型１７５ＭＨｚ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
808、 SJ 2672.4-86 电子元器件详细规范 ３ＤＡ３０４型１７５ＭＨｚ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
809、 SJ 2672.5-86 电子元器件详细规范 ３ＤＡ３０５型１７５ＭＨｚ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
810、 SJ 2672.6-86 电子元器件详细规范 ３ＤＡ３０６型１７５ＭＨｚ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
811、 SJ 2672.7-86 电子元器件详细规范 ３ＤＡ３０７型１７５ＭＨｚ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
812、 SJ 2672.8-86 电子元器件详细规范 ３ＤＡ３０８型１７５ＭＨｚ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
813、 SJ 2672.9-86 电子元器件详细规范 ３ＤＡ３０９型１７５ＭＨｚ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
814、 SJ 2673.2-86 电子元器件详细规范 ３ＤＡ３１２型４７０ＭＨｚ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
815、 SJ 2673.3-86 电子元器件详细规范 ３ＤＡ３１３型４７０ＭＨｚ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
816、 SJ 2673.4-86 电子元器件详细规范 ３ＤＡ３１４型４７０ＭＨｚ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
817、 SJ 2673.5-86 电子元器件详细规范 ３ＤＡ３１５型４７０ＭＨｚ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
818、 SJ 2751-87 印制板用直柄硬质合金麻花钻
819、 SJ 2741-87 数字无线电微波接力通信系统容量系列及射频波道配置
820、 SJ 2747-87 阶跃恢复二极管空白详细规范
821、 SJ 2673.6-86 电子元器件详细规范 ３ＤＡ３１６型４７０ＭＨｚ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
822、 SJ 2674-86 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器ＲＪ１６型金属膜固定电阻器 评定水平Ｅ
823、 SJ 2675-86 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器ＲＪ１７型金属膜固定电阻器 评定水平Ｅ
824、 SJ 2684-86 半导体发光（可见光）器件外形尺寸
825、 SJ 2697-86 雷达用高压充电电感通用技术条件（可供认证用）
826、 SJ 2699-86 ３ＤＧ３８８型ＮＰＮ硅高频低噪声小功率晶体管详细规范
827、 SJ 2700-86 ３ＤＧ２０６０型ＮＰＮ硅高频中功率晶体管详细规范
828、 SJ 2701-86 3CX673型ＰＮＰ硅小功率晶体管详细规范
829、 SJ 2702-86 ３ＤＧ４５８型ＮＰＮ硅高频小功率晶体管详细规范
830、 SJ 2704-86 ＣＢＭ－４４３ＢＦ（４０３ＢＦ）型调频调幅四联薄膜介质可变电容器
831、 SJ 2705-86 ＣＢＭ－２０３Ｂ、２４３Ｂ型双联薄膜介质可变电容器
832、 SJ 2709-86 印制板组装件温度测试方法
833、 SJ 2710-86 ２７～４７０ＭＨｚ调频（或调相）民用小型无线电话机技术条件
834、 SJ 2712-86 民用小型无线电话机及其附属设备环境要求和试验方法
835、 SJ 2713-86 民用小型无线电话机及其附属设备质量检验规则
836、 SJ/T 10148.1-91 电气简图的编制方法 术语、分类和编制原则
837、 SJ/T 10148.3-91 电气简图的编制方法 系统图（框图）
838、 SJ/T 10148.4-91 电气简图的编制方法 电路图
839、 SJ/T 10148.5-91 电气简图的编制方法 逻辑图
840、 SJ/T 10148.6-91 电气简图的编制方法 接线图和接线表
841、 SJ 2736-86 微波烟叶复烤机总技术条件
842、 SJ/T 10148.7-91 电气简图的编制方法 线缆连接图和线缆连接表
843、 SJ/T 10148.8-91 电气简图的编制方法 总布置图
844、 SJ 2716-86 数字电子计算机系统的设计文件的成套和编制
845、 SJ 2735-86 电子产品图样绘制规则
846、 SJ 2737-86 光纤光缆带宽测量方法
847、 SJ 2738-86 微型控制电机用齿轮减速器基本参数
848、 SJ 2739-86 微型控制电机用齿轮减速器通用技术条件
849、 SJ/Z 2740-86 电子工业企业质量保证体系指南
850、 SJ 2743-87 电源用磁性氧化物磁芯（ＥＣ－磁芯）的尺寸
851、 SJ 2744-87 磁性氧化物制成的方形磁芯（ＲＭ－磁芯）及其附件的尺寸
852、 SJ 2746-87 电子元器件详细规范 功率型固定电阻器 ＲＸＧ１型功率型线绕电阻器 评定水平Ｅ
853、 SJ 2749-87 半导体激光二极管测试方法
854、 SJ 2750-87 半导体激光二极管外形尺寸
855、 SJ 2752-87 印制板用中柄硬质合金麻花钻
856、 SJ 2753-87 印制板用柄φ３ｍｍ硬质合金麻花钻
857、 SJ 2754-87 印制板用柄φ３．１７５ｍｍ硬质合金麻花钻
858、 SJ 2755-87 印制板用硬质合金麻花钻技术条件
859、 SJ 2756-87 印制电路板引线硬质合金切头刀
860、 SJ 2757-87 重掺半导体载流子浓度的红外反射测试方法
861、 SJ 2758-87 同型外延层厚度的红外干涉测试方法
862、 SJ 2762-87 声表面波振荡器名词术语
863、 SJ 2771-87 船用雷达包装技术条件
864、 SJ 2759-87 ２ＣＬ２１～２９型玻璃钝化封装高压硅堆详细规范
865、 SJ 2760-87 ２ＣＬ７０～７７及２ＣＬ７９型塑料封装高压硅堆详细规范
866、 SJ 2763-87 声表面波振荡器外形尺寸
867、 SJ 2764-87 ＣＫＢ５０／１５／４０型固定玻璃真空电容器
868、 SJ 2765-87 ＣＫＢＢ７５０／１０／７５型可变玻璃真空电容器
869、 SJ 2774-87 手摇发电机通用技术条件
870、 SJ 2775-87 ＦＳＤ３０型手摇发电机
871、 SJ 2776-87 ＦＳＷ５０型手摇发电机
872、 SJ 2777.1-87 黑白电视广播接收机检验规则（交收检查）
873、 SJ 2777.2-87 黑白电视广播接收机检验规则（周期检查）
874、 SJ 2778-87 广播接收名词术语
875、 SJ 2779-87 盒式磁带录音机运带机构精密轴
876、 SJ/Z 2782-87 非蒸散型吸气剂激活全过程的气氛分析方法
877、 SJ 2783-87 调度电话总机技术要求
878、 SJ 2784-87 调度电话总机测试方法
879、 SJ 2785-87 雷达产品随机文件
880、 SJ 2791-87 电子元件详细规范 ＷＳ型低功率电位器 评定水平Ｅ
881、 SJ 2792-87 电子元件详细规范 ＷＨ２０－１型低功率电位器 评定水平Ｅ
882、 SJ 2794-87 电子级氢
883、 SJ 2795-87 电子级氮
884、 SJ 2796-87 电子级氧
885、 SJ 2797-87 电子级氩
886、 SJ 2798-87 电子级气体中颗粒的测定方法 光散射法
887、 SJ 2799-87 电子级气体中痕量水分子的测定方法 目视露点法
888、 SJ 2800-87 电子级气体中痕量甲烷的测定方法 氢焰色谱法
889、 SJ/Z 2815-87 逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用于孤立批的检查）
890、 SJ 2824-87 电视接收机用紧固件 十字槽大球面头自攻螺钉
891、 SJ 2825-87 电视接收机用紧固件 十字槽大球面凸缘自攻螺钉
892、 SJ 2826-87 电视接收机用紧固件 十字槽六角头自攻螺钉
893、 SJ 2801-87 电子级气体中痕量一氧化碳的测定方法 预切割氢焰转化色谱法
894、 SJ 2802-87 电子级气体中痕量二氧化碳测定方法 氢焰转化色谱法
895、 SJ 2803-87 电子级氧中痕量二氧化碳测定方法 预切割氢焰转化色谱法
896、 SJ 2804.1-87 电子级氩中痕量氮的测定方法 变温浓缩色谱法（一）
897、 SJ 2804.2-87 电子级氩中痕量氮的测定方法 变温浓缩色谱法（二）
898、 SJ 2805-87 电子级氢中痕量氧＋氩、氮测定方法 变温浓缩色谱法
899、 SJ 2806-87 电子级氢中痕量氧和氮测定方法 变温浓缩色谱法
900、 SJ 2807-87 电子级气体中痕量氢的测试方法 气敏色谱法
901、 SJ/Z 2808-87 印制板组装件热设计
902、 SJ 2810-87 载波通信设备可靠性试验方法
903、 SJ 2814-87 炭粒式送话器测试标准装置技术要求
904、 SJ 2816.1-87 Ｊ１型（锡焊）晶体盒详细规范
905、 SJ 2816.2-87 Ｊ１Ａ型（电阻焊）晶体盒详细规范
906、 SJ 2816.3-87 Ｊ３型（锡焊）晶体盒详细规范
907、 SJ 2816.4-87 Ｊ３Ａ型（电阻焊）晶体盒详细规范
908、 SJ 2816.5-87 Ｊ３Ｂ型（冷压焊）晶体盒详细规范
909、 SJ 2818-87 电视接收机用紧固件 自攻螺纹
910、 SJ 2819-87 电视接收机用紧固件 热处理钢自攻螺钉－机械性能
911、 SJ 2820-87 电视接收机用紧固件 螺钉十字槽
912、 SJ 2821-87 电视接收机用紧固件 十字槽盘头自攻螺钉
913、 SJ 2822-87 电视接收机用紧固件 十字槽沉头自攻螺钉
914、 SJ 2823-87 电视接收机用紧固件 十字槽扁圆头自攻螺钉
915、 SJ 2827-87 电视接收机用紧固件 显像管支架螺栓
916、 SJ 2828-87 电视接收机用紧固件 十字槽盘头螺钉
917、 SJ 2829-87 电视接收机用紧固件 十字槽大球面头螺钉
918、 SJ 2830-87 电视接收机用紧固件 十字槽大球面凸缘螺钉
919、 SJ 2831-87 电视接收机用紧固件 十字槽大球面头自攻锁紧螺钉
920、 SJ 2832-87 电视接收机用紧固件 十字槽大球面凸缘自攻锁紧螺钉
921、 SJ 2833-87 电视接收机用紧固件 十字槽自攻锁紧螺钉技术条件
922、 SJ 2834-87 电视接收机用紧固件 十字槽盘头带平垫圈的组合螺钉
923、 SJ 2835-87 电视接收机用紧固件 十字槽盘头带弹簧垫圈的组合螺钉
924、 SJ 2836-87 电视接收机用紧固件 十字槽盘头带弹簧垫圈和平垫圈的组合螺钉
925、 SJ 2837-87 电视接收机用紧固件 十字槽组合螺钉技术条件
926、 SJ 2838-87 电视接收机用紧固件 十字槽大球面头带平垫圈的组合自攻螺钉
927、 SJ 2840-87 电视接收机用紧固件 十字槽六角头带平垫圈的组合自攻螺钉
928、 SJ 2839-87 电视接收机用紧固件 十字槽大球面头带外齿垫圈的组合自攻螺钉
929、 SJ 2841-87 电视接收机用紧固件 十字槽组合自攻螺钉技术条件
930、 SJ 2842-87 电视接收机用紧固件 六角法兰花面螺母
931、 SJ 2843-87 电视接收机用紧固件 六角带梅花弹性垫圈的组合螺母
932、 SJ 2844-87 电视接收机用紧固件 梅花弹性垫圈
933、 SJ 2845.1-87 电气继电器 第七部分：总规范 有或无机电继电器测试方法（可供认证用）
934、 SJ 2846-88 ３０ＭＨｚ～１ＧＨｚ声音和电视信号的电缆分配系统验收规则
935、 SJ 2847-88 地面无线电接力系统的设备可靠性试验方法（指数分布）
936、 SJ 2848-88 录音电话机类别、基本参数、技术要求
937、 SJ 2845.2-87 电气继电器 第十部分：总规范 ＳＪ２８４５．１的补充件：IEC电子元器件质量评定体系在有或无继电器上的应用（可供认证用）
938、 SJ 2845.3-87 电气继电器 第十九部分：分规范 有质量评定的有或无机电继电器（可供认证用）
939、 SJ 2845.4-87 电气继电器 第十九部分：空白详细规范：有质量评定的有或无机电继电器试验一览表１、２和３（可供认证用）
940、 SJ 2849-88 半导体分立器件 封装件结构尺寸
941、 SJ 2850-88 半导体分立器件 管座管帽引线框架总规范
942、 SJ 2851-88 半导体分立器件 小功率管管座管帽详细规范
943、 SJ 2852-88 半导体分立器件 大功率管管座管帽详细规范
944、 SJ 2853-88 半导体分立器件 螺栓形管座管帽详细规范
945、 SJ 2854-88 半导体分立器件 塑封引线框架详细规范
946、 SJ 2855-88 温差电致冷名词术语
947、 SJ 2857.1-88 温差电致冷材料性能的测试方法 热导率测试方法
948、 SJ 2859-88 电子元器件详细规范 功率型固定电阻器 ＲＸＧ２型线绕固定电阻器 评定水平Ｅ
949、 SJ 2860-88 电子元器件详细规范 功率型固定电阻器 ＲＸＧ３型线绕固定电阻器 评定水平E
950、 SJ 2861-88 电子元器件详细规范 功率型固定电阻器 ＲＸＧ４型线绕固定电阻器 评定水平Ｅ
951、 SJ 2862-88 电子元器件详细规范 功率型固定电阻器 ＲＸＧ５型线绕固定电阻器 评定水平Ｅ
952、 SJ 2863-88 电子元器件详细规范 功率型固定电阻器 ＲＸＧ６型线绕固定电阻器 评定水平Ｅ
953、 SJ 2864-88 电子元器件详细规范 功率型固定电阻器 ＲＸＧ７型线绕固定电阻器 评定水平Ｅ
954、 SJ 2865-88 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器ＲＦ１０型涂覆型熔断电阻器 评定水平Ｅ
955、 SJ 2857.2-88 温差电致冷材料性能的测试方法 电导率的测试方法
956、 SJ 2857.3-88 温差电致冷材料性能的测试方法 温差电动势率的测试方法
957、 SJ 2866-88 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器ＲＦ１１型瓷壳型熔断电阻器 评定水平Ｅ
958、 SJ 2867-88 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器ＲＩ４０型玻璃釉膜固定电阻器 评定水平Ｅ
959、 SJ 2868-88 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器ＲＪ２０型金属膜电阻器 评定水平Ｅ
960、 SJ 2869-88 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器ＲＳ１１型有机实心固定电阻器 评定水平Ｅ
961、 SJ 2856-88 温差电致冷组件型号命名方法
962、 SJ 2858-88 温差电致冷组件性能的测试方法 温差及最低冷面温度测试方法
963、 SJ 2883-88 双磁性内磁式扬声器用永磁铁氧体磁体尺寸
964、 SJ 2893-88 电子元器件详细规范 ＷＨ１９型低功率电位器 评定水平Ｅ
965、 SJ 2894-88 电子元器件详细规范 ＷＳ２３型预调电位器 评定水平Ｅ
966、 SJ 2895-88 电子元器件详细规范 ＷＨ１３８型低功率电位器 评定水平Ｅ
967、 SJ 2901-88 传真机可靠性试验方法
968、 SJ 2902-88 设计文件的登记、流转和保管
969、 SJ 2903-88 电子元器件详细规范 厚膜混合集成电路ＣＨＭ８５４６视放电路
970、 SJ 2904-88 电子元器件详细规范 厚膜混合集成电路ＣＨＭ６２３２、ＣＨＭ６２３６帧输出电路
971、 SJ 2905-88 电子元器件详细规范 厚膜混合集成电路ＣＨＭ９１０２电压设定电路
972、 SJ 2906-88 电子元器件详细规范 厚膜混合集成电路ＣＨＭ７１０３高压限制电路
973、 SJ 2259-82 电子测量仪器随机技术文件的编制
974、 SJ 2261-82 电子设备车辆汽车底盘吨位与尺寸系列
975、 SJ 2262-82 电子设备车辆拖车底盘吨位与尺寸系列
976、 SJ 2263-82 电子设备车辆骨框架断面形状与尺寸系列
977、 SJ 2264-82 电子设备车辆门的型式与尺寸系列
978、 SJ 2265-82 电子设备车辆窗的型式与尺寸系列
979、 SJ 2267-82 军用电子设备机械电气装配通用技术要求
980、 SJ 2268-83 旋转多晶铁氧体材料系列
981、 SJ 2271-83 ３ＤＧ１０４型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管
982、 SJ 2272-83 ３ＤＧ４４型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管
983、 SJ 2273-83 ３ＤＧ８１型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管
984、 SJ 2274-83 ３ＤＧ１１３型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管
985、 SJ 2275-83 ３ＤＧ８５型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管
986、 SJ 2276-83 ３ＤＧ１１４型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管
987、 SJ 2277-83 ３ＤＧ１１５型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管
988、 SJ 2278-83 ３ＤＧ７２型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管
989、 SJ 2279-83 ３ＤＧ１２３型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管
990、 SJ 2281-83 ３ＤＧ１３２型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管
991、 SJ 2282-83 ３ＤＧ１４３型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管
992、 SJ 2283-83 ３ＤＧ１４４型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管
993、 SJ 2284-83 ３ＤＧ１４５型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管
994、 SJ 2285-83 ３ＤＧ１４６型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管
995、 SJ 2286-83 ３ＤＧ１４７型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管
996、 SJ 2287-83 ３ＤＧ１４８型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管
997、 SJ 2288-83 ３ＤＧ１４９型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管
998、 SJ 2289-83 ３ＤＧ１５１型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管
999、 SJ 2290-83 ３ＤＧ１５２型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管
1000、 SJ 2291-83 ３ＤＧ１５３型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管
1001、 SJ 2292-83 ３ＤＧ１５４型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管
1002、 SJ 2293-83 ３ＤＧ１５５型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管
1003、 SJ 2294-83 ３ＤＧ１５６型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管
JLgsm 2008-5-28 09:41
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1005、 SJ 2296-83 ＣＫＢＢ４００／７．５／４０型可变玻璃真空电容器
1006、 SJ 2303-83 ＴＸ型同心插头座
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1008、 SJ/T 2307.1-97 电子元器件详细规范 浪涌抑制型压敏电阻器 ＭＹＬ１型防雷用氧化锌压敏电阻器 评定水平Ｅ
1009、 SJ 2309.1-83 ＭＹＺ１型消噪用氧化锌压敏电阻器
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1017、 SJ 2318-83 扬声器用铝镍钴系永磁体
1018、 SJ 2323-83 短波单边带发射机外部接口
1019、 SJ 2324-83 短波单边带接收机外部接口
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1021、 SJ 2326-83 高低温低气压试验设备通用技术条件
1022、 SJ 2327-83 低温试验设备通用技术条件
1023、 SJ 2328-83 高温试验设备通用技术条件
1024、 SJ 2329-83 温度变化试验设备通用技术条件
1025、 SJ 2330-83 湿热试验设备通用技术条件
1026、 SJ 2332-83 数字无线电微波接力通信信道传输设备电性能测量方法
1027、 SJ 2337-83 矩形波导组件总技术条件
1028、 SJ 2338-83 矩形直波导组件
1029、 SJ 2339-83 矩形９０°Ｈ面圆弧弯波导组件
1030、 SJ 2340-83 矩形９０°Ｅ面圆弧弯波导组件
1031、 SJ 2341-83 矩形６０°Ｈ面圆弧弯波导组件
1032、 SJ 2342-83 矩形６０°Ｅ面圆弧弯波导组件
1033、 SJ 2343-83 矩形４５°Ｈ面圆弧弯波导组件
1034、 SJ 2344-83 矩形４５°Ｅ面圆弧弯波导组件
1035、 SJ 2345-83 矩形圆弧扭波导组件
1036、 SJ 2346-83 矩形波导终端负载总技术条件
1037、 SJ 2348-83 小型数字电子计算机通用技术条件
1038、 SJ 2349-83 磁鼓存储器总技术条件
1039、 SJ 2350-83 控制台和终端用打字机通用技术条件
1040、 SJ 2351-83 ＳＦ－２５型视像管
1041、 SJ 2352-83 ＳＦ－２６型视像管
1042、 SJ 2353-83 ＳＦ－２７型视像管
1043、 SJ 2354.1-83 ＰＩＮ、雪崩光电二极管光电参数测试方法 总则
1044、 SJ 2354.2-83 ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
1045、 SJ 2354.3-83 ＰＩＮ、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
1046、 SJ 2354.4-83 ＰＩＮ、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
1047、 SJ 2354.5-83 ＰＩＮ、雪崩光电二极管电容的测试方法
1048、 SJ 2354.6-83 ＰＩＮ、雪崩光电二极管响应度的测试方法
1049、 SJ 2354.7-83 ＰＩＮ、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法
1050、 SJ 2354.8-83 ＰＩＮ、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
1051、 SJ 2354.9-83 ＰＩＮ、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
1052、 SJ 2354.10-83 ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
1053、 SJ 2354.11-83 ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试方法
1054、 SJ 2354.12-83 雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
1055、 SJ 2354.13-83 雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
1056、 SJ 2354.14-83 雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
1057、 SJ 2355.1-83 半导体发光器件测试方法 总则
1058、 SJ 2355.2-83 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法
1059、 SJ 2355.3-83 半导体发光器件测试方法 反向电流的测试方法
1060、 SJ 2355.4-83 半导体发光器件测试方法 结电容的测试方法
1061、 SJ 2355.5-83 半导体发光器件测试方法 法向光强和半强度角的测试方法
1062、 SJ 2355.6-83 半导体发光器件测试方法 光通量的测试方法
1063、 SJ 2355.7-83 半导体发光器件测试方法 发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法
1064、 SJ 2356-83 ３ＣＤ３４７型ＰＮＰ硅低压低频大功率三极管
1065、 SJ 2357-83 ３ＣＤ１４９型、３ＣＤ１５０型、３ＣＤ３４９型ＰＮＰ硅低压低频大功率三极管
1066、 SJ 2358-83 ３ＣＤ１５１型、３ＣＤ１５２型、３ＣＤ３５１型ＰＮＰ硅低压低频大功率三极管
1067、 SJ 2359-83 ３ＣＤ１５３型、３ＣＤ１５４型、３ＣＤ３５３型ＰＮＰ硅低压低频大功率三极管
1068、 SJ 2360-83 ３ＣＤ１５５型、３ＣＤ１５６型、３ＣＤ３５５型ＰＮＰ硅低压低频大功率三极管
1069、 SJ 2361-83 ３ＣＤ１５７型、３ＣＤ１５８型、３ＣＤ３５７型ＰＮＰ硅低压低频大功率三极管
1070、 SJ 2362-83 ３ＣＤ１５９型、３ＣＤ１６０型ＰＮＰ硅低压低频大功率三极管
1071、 SJ 2363-83 ３ＣＤ１６２型、３ＣＤ３６２型ＰＮＰ硅低压低频大功率三极管
1072、 SJ 2364-83 ３ＣＤ１６４型、３ＣＤ３６４型ＰＮＰ硅低压低频大功率三极管
1073、 SJ 2365-83 &